技術特點
· XRD-7000系列配備了樣品水平型測角儀,能夠測定超大型樣品。
· XRD-7000系列配備了樣品水平型測角儀,能夠測定超大型樣品。
· 不但可進行定性/定量等基本分析,還可以應用于殘留奧氏體定量、環(huán)境定量、晶格常數(shù)的精密化、結晶度的計算、晶體粒徑和晶格應力的計算、晶系確定、Rietveid結構解析軟件進行的晶體結構解析。通過追加附件,還可以應用于應力測定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測定等。
· 利用新開發(fā)的大型R-θ樣品臺,可以進行350mmφ樣品全表面的自動應力成圖測定。
· 采用強大的多毛細管平行光束系統(tǒng),可對應凹凸不同的樣品的分析,擴大應用范圍。