Horiba X射線熒光分析儀是專門針對WEEE(電氣電子產(chǎn)品廢棄物處理法令)和RoHS法令(限制電器電子產(chǎn)品使用有害物質(zhì)法令),快速地測定電子部件中的有害元素的含量。它能對電子電器產(chǎn)品中所含有的有害物質(zhì)如鉛、汞、鉻、鎘、溴等元素進(jìn)行快速而準(zhǔn)確的分析。另外,通過CCD攝像頭可以非常清晰的觀察樣品表面,選取所需要的測試點,操作非常簡單。
X射線熒光是一種可對加工材料和部件進(jìn)行快速、無損掃描的檢測技術(shù)。分析時間只需要幾分鐘,靈敏度可以控制在低于100 ppm (0.01%)。XGT系統(tǒng)的檢測限度可以低至2 ppm (0.0002%). 標(biāo)準(zhǔn)的1.2 mm 分析光速可以保證即使是非常小的電子元件和部件也可以獨立進(jìn)行分析。
XGT-5200WR為WEEE/RoHS, ELV和中國RoHS特別設(shè)計,用于5元素(Pb/Cd/Cr/Hg/Br)高靈敏度測量并帶有X射線顯微鏡功能。
◆ 400μm的X射線光斑,為有害元素的控制提供了高分辨率的掃描分析,適合小到IC集成塊單一引腳的分析。同時提供小光斑—10μm (可選配件)。
◆ SDD檢測器極大地提高了分辨率和計數(shù)率,且無需使用液氮(LN2)。
◆ 無需任何樣品制備或真空--樣品僅需要放置在樣品室中,即可在正常大氣壓力下分析。
◆ 整合的軟件可控制樣品的移動,獲取數(shù)據(jù)分析(包括定性和定量分析,并生成成分組成圖像)。
◆ 樣品觀察采用同軸幾何呈象,可消除視差。
特征
◆ 同時顯示X射線熒光元素分布圖和X射線透過像
◆ 適用RoHS/ELV/無鹵指令的分析
◆ 小光斑:Φ10μm(可選)
◆ 膜厚測量(微區(qū)多層膜厚參數(shù)法)、Excel數(shù)據(jù)管理軟件、多點分析(最多1000點)
◆ 的操作性和簡便的維護(hù)性