HORIBA SZ-100系列納米顆粒分析儀在描述小顆粒物理性質(zhì)方面是靈活的分析工具。根據(jù)不同的配置和應(yīng)用程序可以完成顆粒度的分析,zeta電位的檢測,分子量(Mw)以及第二維利系數(shù)(A2)的測定。
SZ-100的典型應(yīng)用包括:納米顆粒,膠體,乳液以及亞微米懸浮液。
SZ-100還可以用于檢測蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。用戶準備幾個已知濃度的溶液,然后使用系統(tǒng)的靜態(tài)光散射模式繪制Debye曲線,從而計算出Mw和A2。
主要特點:
◆ 可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量
◆ 超寬動態(tài)測定有效范圍:0.3nm~8000nm(光子相關(guān)法)
◆ Zeta電位測定范圍:-200~+200mV(電泳多普勒法)
◆ 分子量測定范圍:1×10 3~2×10 7 Da(Debye Plot法)
◆ 從ppm到百分之幾十的超寬樣品濃度范圍,在原液狀態(tài)下取樣測定。
◆ Horiba*的微量電泳樣品池,可以測定僅100μl 的Zeta電位
◆ 優(yōu)秀的雙光路系統(tǒng)設(shè)計(90°和173°雙檢測器)適用于更寬濃度范圍的樣品測量
◆ *的檢測池清潔程度測定,保證了結(jié)果的準確性。
◆ 操作簡單快捷,取樣后僅需按測定開始按鈕