高低溫真空探針臺(tái)
產(chǎn)品概述:
可進(jìn)行真空環(huán)境下的高低溫測(cè)試(4.2K~500K),可升級(jí)加載磁場(chǎng),低溫防輻射屏設(shè)計(jì),樣品臺(tái)采用高純度無氧銅制作,溫度均勻性更好,溫度傳感器采用有著良好穩(wěn)定性和重復(fù)性的PT100或者標(biāo)定過的硅二極管作為測(cè)溫裝置,支持光纖光譜特性測(cè)試,兼容高倍率金相顯微鏡,可微調(diào)移動(dòng),器件的高頻特性(支持高67GHz頻率),探針熱沉設(shè)計(jì),LD/LED/PD的光強(qiáng)/波長(zhǎng)測(cè)試,自動(dòng)流量控制,材料/器件的IV/CV特性測(cè)試等。
高低溫真空探針臺(tái)
應(yīng)用范圍:
高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試,材料測(cè)試,霍爾測(cè)試,電磁輸運(yùn)特性等。
可選附件:
þ 防震桌
þ 多級(jí)壓縮制冷機(jī)
þ 機(jī)械泵/分子泵組/離子泵
þ 射頻部件
þ 各類型頻率真空接頭
þ 各類DC探針、高頻探針、主動(dòng)式探針、電纜線等…
þ 各類探針夾具
þ Chuck運(yùn)動(dòng)裝置
þ 電磁鐵系統(tǒng)/超導(dǎo)磁鐵系統(tǒng)
þ 1Mpa正壓系統(tǒng)
þ 超高溫升級(jí)選件
þ 超高真空升級(jí)選件
技術(shù)指標(biāo):
型號(hào) | T81-50探針臺(tái) | T80-50探針臺(tái) |
制冷方式 | 液氦/液氮制冷 | 閉循環(huán)制冷機(jī) |
腔體材質(zhì) | 無磁不銹鋼或者鋁合金 | |
真空度 | 高真空10-8Pa | |
真空腔觀察窗尺寸 | 2inch(可選) | |
控溫范圍 | 4.2K-450K | 5K-450K |
控溫分辨率 | 0.001K控溫儀相關(guān) | |
溫度穩(wěn)定性 | 0.1K控溫儀相關(guān) | |
降溫時(shí)間 | 40min | 150min內(nèi),視制冷機(jī)功率定 |
溫度傳感器 | 硅二極管、PT100(3個(gè),樣品臺(tái)和探針臂和防輻射屏上各一個(gè)) | |
加熱電源 | LVDC 低壓直流 | |
樣品臺(tái)材質(zhì) | 鍍金無氧銅 | |
樣品臺(tái)尺寸 | 直徑20-50mm,可選100mm | |
樣品臺(tái)平整度 | ≤7μm | |
樣品臺(tái)固定方式 | 固定的樣品臺(tái)(可升級(jí)隨位移臺(tái)移動(dòng)) | |
樣品臺(tái)振動(dòng)級(jí)別 | ≤50納米 | ≤1μm(三級(jí)減震) |
探針臂數(shù)量 | 2個(gè)、4個(gè)、6個(gè)、8個(gè)可選 | |
探針臂機(jī)械精度 | ±12.5mm(可升級(jí)±25mm),精度1μm(可選) | |
探針種類 | 鎢、鈹銅、微波探針(可選高達(dá)67GHz的GSG探針) | |
探針調(diào)節(jié) | 真空波紋管外部調(diào)節(jié),手動(dòng)控制 | |
放大倍數(shù) | 16~100X/20~4000X | |
顯微鏡行程 | X、Y平面2*2inch,精度1μm,Z軸行程≥50.8mm | |
電力需求 | 220V 50-60Hz |
應(yīng)用范圍:
磁特性測(cè)試、微波特性測(cè)試、直流、RF特性測(cè)試,微電子機(jī)械系統(tǒng),超導(dǎo)電性測(cè)試,納米電路的光電屬性,量子點(diǎn)和線,高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試,材料測(cè)試,霍爾測(cè)試,電磁輸運(yùn)特性等
可選附件:
þ 各類DC探針、高頻探針、主動(dòng)式探針、電纜線
þ CCD或C-MOS視頻成像裝置
þ Chuck運(yùn)動(dòng)裝置
þ 電磁鐵系統(tǒng)/超導(dǎo)磁鐵系統(tǒng)
þ 1Mpa正壓系統(tǒng)升級(jí)
þ 超高溫升級(jí)選件
þ 超高真空升級(jí)選件
þ 各類探針夾具