晶圓級芯片尺寸封裝 (WLCSP) 因其成本性能比和無襯底封裝而具吸引力,但卻受到芯片尺寸的限制。另一種替代方案,扇出型晶圓級封裝 (FOWLP) 技術正在研發(fā)和應用,因為它允許通過“扇出”與外部襯墊互連來增加 I/O 密度。終使其具有更小的外形尺寸和更低的功耗。異構集成的半導體封裝技術,如系統(tǒng)級封裝 (SIP) 和堆疊封裝 (PoP) 基礎結構,由于日益復雜的集成而面臨著重大挑戰(zhàn)。
晶圓級封裝挑戰(zhàn)
對于許多此類技術來說,薄化器件的襯底處理是制造流程中的一個主要挑戰(zhàn)。硅晶片薄化至 <50 微米 (µm),或使用一個 RDL-first流程創(chuàng)建的重分布層 (RDL) 需非常小心且制造成本很昂貴。處理過程要求使用通過臨時鍵合和解鍵合 (TBDB) 技術處理支撐襯底,以方便構建復雜的封裝基礎機構。
芯片封裝氣泡問題
ELT科技研發(fā)的高溫真空壓力除泡烤箱,利用技術采用真空+壓力+高溫烘烤的方法將內部氣體抽至表面. 之后再施以壓力及加熱烘烤,已達到去除氣泡的目的。效果一目了然。目前眾多臺資PCB廠都在使用ELT科技的除氣泡設備,我們?yōu)槟峁iT的定制解決方案,讓您提高產(chǎn)品良品率,降低消耗。