.X射線熒光鍍層厚度測量儀顯微領域的高精度檢測
通過采用新開發(fā)的多毛細管,以及對探測器的優(yōu)化,在實現(xiàn)照射半徑等同于舊有型號FT9500X為30 μm(設想FWHM: 17 μm)的基礎上,進一步將處理能力提高到了2倍以上。
2.產(chǎn)品陣容適應各類檢測樣本
針對檢測樣本的不同種類,可在下列3種型號中進行選擇。
- 測量引線架、連接器等各類電子元器件的微型部件、超薄薄膜的型號
- 能夠處理尺寸為600 mm×600 mm的大型印刷電路板的大型印刷電路板用型號
- 適合對陶瓷芯片電極部分中,過去難以同時測量的Sn/Ni兩層進行高能測量的型號
3.X射線熒光鍍層厚度測量儀兼顧易操作性與安全性
放大了開口,同時樣本室的門也可單手輕松開閉。從而提高了取出、放入檢測樣本的操作簡便性,并且該密封結構也大大減少了X射線泄漏的風險,讓用戶放心使用。
4.檢測部位可見
通過設置大型觀察窗、修改部件布局,使得樣本室門在關閉狀態(tài)下亦可方便地觀察檢測部位。
5.清晰的樣本圖像
使用了分辨率比以往更高的樣本觀察攝像頭,采用全數(shù)碼變焦,從而消除位置偏差,可以清晰地觀察數(shù)十μm的微小樣本。
另外,亦采用LED作為樣本觀察燈,無需像以往的機型那樣對燈泡進行更換。
6.新GUI
- 將各類檢測方法、檢測樣本都以應用程序圖標的形式進行了登記。圖標皆為檢測樣本的照片、多層膜的圖示等,因此登記、整理起來就很方便,從而使得用戶可以不走彎路,直接進行檢測。
- 使用檢測向導窗口來指導操作。通過與檢測畫面聯(lián)動,逐步引導用戶執(zhí)行當前所需進行的工作。