日本理學(xué)上照射式 X射線熒光光譜儀儀器簡介：
PrimusII是理學(xué)公司奉獻的上照射式X射線熒光光譜儀,因采用了新型分光晶體,使輕元素分析(如C,B)靈敏度大幅度提高.超輕元素對應(yīng)X射線光管,大功率4千瓦,薄窗,適合輕元素分析
48樣品臺,節(jié)省空間.1次濾波片,可去掉來自光管的特征譜線,減低背景.雙真空,雙泵設(shè)計,節(jié)省抽真空時間.防粉塵附件,可防止粉末掉入真空泵.微區(qū)分析可達500.適合少量樣品分析.
軟件在原有的SQX軟件基礎(chǔ)上進一步完善,采用對話方式,進行EZ掃描.應(yīng)用模板,可將各種測試條件,以及前處理順序設(shè)置其中.FP無標(biāo)樣分析,是理學(xué)公司多年來總結(jié)出的一套很好的分析方法,不設(shè)定測試成分也能準(zhǔn)確分析.流程條,按順序顯示測試處理內(nèi)容.標(biāo)準(zhǔn)樣品,操作手冊全中文提供,方便中國用戶.
維修保養(yǎng):PAS自動調(diào)整,芯線自動清洗.給用戶帶來方便.

日本理學(xué)上照射式 X射線熒光光譜儀技術(shù)參數(shù)：
硬件：
對應(yīng)超輕元素的X射線光管
采用4kW、30μm薄窗X射線光管，可高靈敏度測試超輕元素。
采用新型光學(xué)系統(tǒng)
采用新型分光晶體，與第二代儀器分光晶體相比，大幅度提高了靈敏度。
 

48樣品交換器
實現(xiàn)平臺式共享化，zui多可放置48個樣品。多樣品交換器實現(xiàn)了省空間。
 

1次X射線濾光片
除去X射線光管的特征X射線光譜，在減低背景干擾方面發(fā)揮威力。
 

雙泵、雙真空系統(tǒng)
采用雙真空系統(tǒng)（樣品室/預(yù)抽真空室）。
防止粉末樣品的細(xì)微粉塵混入光學(xué)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)設(shè)計，樣品交換實現(xiàn)更高效率。
 

粉末附件
電磁閥真空密封、防止細(xì)微粉塵進入真空泵內(nèi)。
 

定點分析
100μm的Mapping分辨率?？稍贑CD圖像上點、區(qū)域、線。定點zui小直徑500μm。
 

采用r-θ樣品臺，避免1次X射線的照射面、以及分光晶體的反射強度的干擾，可得到靈敏度分析結(jié)果。 (無 r-θ 樣品臺)
節(jié)能、節(jié)省空間
節(jié)能功能（自動減少X射線光管輸出） 減少冷卻水量 5L/min（水溫30?以下）
PR氣體流量減少（5mL/min）

省空間
采用聯(lián)體設(shè)計，設(shè)置面積只占傳統(tǒng)儀器70%的空間。便于維護
PAS脈沖高度自動調(diào)整 F-PC芯線自動清洗
 

軟件
新版SQX軟件
在RIGAKU基本參數(shù)法技術(shù)的基礎(chǔ)上SQX（Scan Quant X），追加了新功能。
委托分析EZ掃描
采用對話框形式設(shè)定，可進行SQX分析。
定角測試模式
微量元素，采用譜峰和扣背景以一定時間記數(shù)方法，使用抑制統(tǒng)計變動的X射線強度，算出分析值。自動設(shè)定每個樣品變化扣背景的位置。
 

應(yīng)用模板
各種測試條件以及樣品前處理順序均設(shè)置其中。
 

散射線FP法
不需設(shè)定非測試成分，也可以準(zhǔn)確分析。散射線強度計算，可以考慮幾何學(xué)效果，沒有樣品量信息也可準(zhǔn)確分析。不易加壓成形的樣品以及油狀樣品，使用SQX軟件，可以簡單、準(zhǔn)確地進行分析。
 

流程條
測試、處理流程顯示。根據(jù)流程條內(nèi)容，擊鼠標(biāo)鍵，便可按順序進行所需的測試、處理。
 

其它特點的軟件功能
①SQX分析功能
② Mapping數(shù)據(jù)庫
③材質(zhì)辨別
④理論重疊校正
⑤自動程序運轉(zhuǎn)
⑥校正投入量計算
 

應(yīng)用軟件包
應(yīng)用軟件包，設(shè)定樣品（標(biāo)準(zhǔn)樣品、漂移校正樣品）
CD-ROM（測試條件、校正常數(shù)等）、操作手冊全盤提供。

主要特點：
特點：
輕元素（B,C）靈敏度大幅度提高
配備高強度的分光晶體RX-25,RX-61,RX-75
重金屬的高靈敏度分析-采用型光學(xué)系統(tǒng)
高靈敏度微區(qū)分析-Mapping位置分辨率100μm
完美的無標(biāo)樣分析-SQX軟件
儀器設(shè)計充分考慮周邊環(huán)境-節(jié)能、省空間