X-Supreme8000 臺式X射線熒光光譜儀與高度靈活和強(qiáng)大的能量色散X射線熒光 (EDXRF) 光譜儀 X-Supreme8000 和 Lab-X5000,在各種應(yīng)用中保證質(zhì)量和過程控制要求;例如原油和汽油、木材處理、礦物、采礦、化妝品、水泥和紙張。
為什么選擇日立分析儀器臺式 XRF 光譜儀?
操作方便
*減少樣本制備時(shí)間
檢測限低
針對惡劣環(huán)境的結(jié)實(shí)耐用的設(shè)計(jì)
便于用戶定制和方法開發(fā)的靈活軟件
容易調(diào)整的儀器參數(shù)
X-Supreme8000 臺式X射線熒光光譜儀綜合定性或全面定量分析
比較產(chǎn)品
X-Supreme8000 臺式 XRF 光譜儀
X-Supreme8000 XRF針對進(jìn)行質(zhì)量保證和過程控制要求的分析儀。
分析可被應(yīng)用于多種樣品種類,包括固體、液體、粉末 、軟膏、薄膜等,從PPM到%級,覆蓋元素周期表中 Na11 至 U92 的范圍。
zui少或無需樣本制備。
無人操作,且非實(shí)驗(yàn)室操作員也可使用
FocusSD 技術(shù)提供快速、準(zhǔn)確和*的可靠性
靈活進(jìn)行定性、半定量和全定量分析
X-Supreme8000符合ASTM D4294、ISO8754、ISO20847和ISO13032檢測方法。
日立分析儀器專注于高科技分析解決方案,幫助數(shù)以千計(jì)的企業(yè)降低成本,降低風(fēng)險(xiǎn),提高生產(chǎn)效率。我們實(shí)驗(yàn)室級和強(qiáng)大高性能現(xiàn)場檢測設(shè)備如光電直讀光譜儀、X射線熒光光譜(XRF)、X熒光測厚儀(鍍層測厚儀)、激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀(LIBS)、油品分析儀、土壤分析儀等為客戶提供材料和涂鍍層分析,在整個(gè)生產(chǎn)周期中增加價(jià)值,包括從原材料勘探到來料檢驗(yàn)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制到再循環(huán)。