硅光電式的OLED器件壽命測試FS-MP-HC
根據(jù)用戶不同溫濕度環(huán)境測試需求，可增加高溫箱、高低溫箱、恒溫恒濕箱等，對器件的壽命測試環(huán)境進行控制。其溫度控制范圍、濕度控制范圍和多層腔式均可根據(jù)客戶的需求訂制。
硅光電式的OLED器件壽命測試FS-MP-HC
標準恒溫恒濕箱參數(shù)
溫度范圍： -40～100 ℃ （標準型，其它溫度范圍可訂制）溫度均勻度：±2.0℃溫度波動度： ± 0.5℃溫度精度：1 ℃
軟件功能
(1)測量模式：恒壓、恒流、方波電壓、方波電流(2)軟件所有通道可獨立配置電流電壓測試條件，互不影響。-每個發(fā)光點可以獨立設(shè)置電壓或電流等參數(shù)，獨立開始和停止測量。支持用戶在測試過程中，增加或更換其中幾片產(chǎn)品。-測量時間控制：有3個時間段設(shè)計，每個通道每個時間段可以分別設(shè)置測量時間和間隔等參數(shù)。-測量前預處理功能：有4段預處理，每段預處理都可以設(shè)置溫度、電流、電壓和時間等參數(shù)，正常測量前先以預處理條件進行老化，然后再進入正常壽命測試程序。(3)軟件所有通道可實時檢查詳細測量數(shù)據(jù)及圖表。-數(shù)據(jù)包含樣品信息、測量時間、已測時長、光感電流、亮度剩余比例、電壓、電流、預估壽命溫度、濕度、亮度等。-多通道曲線圖：支持選擇多通道電壓、電流、亮度衰減、壽命時長等數(shù)據(jù)，在一張圖表里顯示曲線，便于比較篩選。-數(shù)據(jù)實時存儲，異常恢復后可找回數(shù)據(jù)并繼續(xù)測試(中斷的時間不累積，能自動減除)。-數(shù)據(jù)實時處理和記錄， 自動生成數(shù)據(jù)圖表和測試報告， Datalog及Eventlog實時記錄。
