NANOPLUS納米粒度與Zeta電位分析儀是一款新型的、具有極寬測(cè)試范圍的多用途分析儀，它采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及全新的FST技術(shù)來(lái)分析納米粒度和Zeta電位，并可測(cè)定固體以及高濃度懸浮液的Zeta電位，符合ISO標(biāo)準(zhǔn)。該儀器采用了高靈敏度測(cè)量技術(shù)，可同時(shí)滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與Zeta電位分析的要求，可檢測(cè)粒徑從0.1nm到12.3μm，濃度從0.00001%到40%的樣品的顆粒。
NANOPLUS納米粒度與Zeta電位分析儀該款儀器具有以下技術(shù)特點(diǎn)：
可測(cè)定顆粒在高濃度溶液中的Zeta電位
可測(cè)定固體Zeta電位
寬粒徑范圍(0.1nm~12.3μm)，寬濃度范圍(粒徑測(cè)試：0.00001%~40%，Zeta電位測(cè)試：0.001%~40%)
粒度測(cè)試采用*的光子相關(guān)光譜技術(shù)，滿足ISO 13321和ISO 22412標(biāo)準(zhǔn)
Zeta電位測(cè)試采用電泳光散射技術(shù)，滿足ISO 13099-2標(biāo)準(zhǔn)
可精確測(cè)量稀釋或濃縮的懸浮液
用戶友好的軟件
多種樣品池選擇
可選擇一次性樣品池
結(jié)合線性相關(guān)器和對(duì)數(shù)相關(guān)器相結(jié)合的技術(shù)對(duì)各種樣品進(jìn)行表征
可選擇自動(dòng)滴定裝置控制懸浮液PH值
產(chǎn)品應(yīng)用：
半導(dǎo)體
研究半導(dǎo)體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機(jī)制。
醫(yī)藥和食品行業(yè)
乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究（如食品、香水、藥品和化妝品），蛋白質(zhì)功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究（微囊）。
陶瓷和顏料工業(yè)
表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷（矽土、氧化鋁、*等）和無(wú)機(jī)溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控制研究，浮礦收集器的吸附研究。
聚合物和化工領(lǐng)域
乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究，乳膠表面重整控制（藥品和工業(yè)用途）。電解聚合物（聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等）功能研究，控制造紙和生產(chǎn)紙漿過(guò)程研究，紙漿添加劑研究。
注：該儀器未取得中華人民共和國(guó)科研注冊(cè)證，不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途
