M型全譜直讀光譜儀采用標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)和制造工藝技術(shù)，全數(shù)字化及互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)結(jié)合，運(yùn)用高分辯率CMOS檢測器，精密設(shè)計(jì)的氬氣吹掃系統(tǒng)，使儀器具有較高的性能、較低的成本、以及竟?fàn)幜Φ膬r(jià)格。

M2全譜直讀光譜儀可應(yīng)用于多種材料的分析。

01 小巧、輕便、精致、可靠的儀器結(jié)構(gòu)，具有同類型直讀光譜儀準(zhǔn)確的分析數(shù)據(jù)。

02 超小設(shè)計(jì)的光學(xué)室結(jié)構(gòu)及優(yōu)化設(shè)計(jì)的氬氣吹掃系統(tǒng)，保證紫外區(qū)元素譜線的透過率。

03 應(yīng)用高分辯多CMOS讀出系統(tǒng)，較低的暗電流、較好的檢出限、較高的穩(wěn)定性、較強(qiáng)的靈敏度。

04 全數(shù)字化的智能復(fù)合光源DDD技術(shù)，充分滿足不同基體、不同樣品以及不同元素的激發(fā)要求。

05 FPGA數(shù)據(jù)采集及以太網(wǎng)網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)傳輸技術(shù)，保證數(shù)據(jù)*性及數(shù)據(jù)傳輸速率。

06 內(nèi)置工廠校正曲線及曲線擴(kuò)展技術(shù)，滿足不同材料的技術(shù)要求。

07互聯(lián)網(wǎng)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)及數(shù)據(jù)云儲存。

08 操作簡單、維護(hù)成本低、質(zhì)量可靠。

09 竟?fàn)幜Φ膬r(jià)格。

精密設(shè)計(jì)的氬氣吹掃系統(tǒng)

光室密封性強(qiáng)，可保持內(nèi)部氬氣*純凈。

光室空間優(yōu)化設(shè)計(jì)，降低氬氣消耗，有效節(jié)約產(chǎn)生成本。

低氬氣吹掃系統(tǒng)，確保光室UV波段測量環(huán)境。

光室充氬免除復(fù)雜的真空系統(tǒng)。

高分辯率CMOS檢測器實(shí)現(xiàn)全譜分析

譜線覆蓋了所有的重要元素，滿足所有基體和材料的分析。

高靈敏的紫外區(qū)檢測，對N的分析檢測更準(zhǔn)確。

可有效選擇元素靈敏線，保證分析的準(zhǔn)確度。

多峰擬合技術(shù)，有效消除譜線干擾，實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)測量。

分析軟件功能強(qiáng)大

1)基于Windows系統(tǒng)的多國語言的CCD全譜圖形化分析軟件，方便實(shí)用；

2)*管理的控制整個(gè)測量過程及為用戶提供強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力和測試報(bào)告輸出能力；

3)儀器可配置多條工廠校正曲線及更多材質(zhì)分析及*解決方案；

4)軟件實(shí)現(xiàn)全譜檢測、智能扣干擾、扣暗電流、背景和噪聲的算法，提高儀器的分析能力；

5)完備的自動系統(tǒng)診斷功能；

6)完善的數(shù)據(jù)庫管理功能，可方便查詢、匯總數(shù)據(jù)；

7)智能校正算法，保證儀器穩(wěn)定可靠；

8)完備的譜線信息和干擾扣除算法，保證儀器分析更為精準(zhǔn)；

9)適應(yīng)Windows操作系統(tǒng)。

主要技術(shù)參數(shù)