超聲波測厚儀產(chǎn)品性能
• 可與雙晶和單晶探頭兼容。
• 寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。
• 使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。
• 穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
• 內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項。
• 對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。
• 使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
• 多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。
• 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
• 厚度、聲速和渡越時間測量。
• 差分模式和縮減率模式。
• 時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可查讀數(shù)。
• 帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動態(tài)增益技術(shù)。
• 用于自定義V聲程補償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
• 設(shè)計符合EN15317標準。
超聲波測厚儀產(chǎn)品應(yīng)用
對塑料、金屬、復(fù)合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進行厚度測量
用戶使用單晶探頭可以精確測量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和連接器類型的單晶探頭。用戶使用高分辨率軟件選項可以進行分辨率為0.001毫米的極其精確的厚度測量。
• 對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。
• 在使用頻率范圍為2.25 MHz到30 MHz的單晶探頭時，高分辨率軟件選項可顯示分辨率高達0.001毫米的測量值。
• 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
• 多層軟件選項可對多達4個不同層的厚度同時進行測量。
• 測量厚度、聲速或渡越時間。
• 帶有默認設(shè)置和自定義設(shè)置的自動調(diào)用應(yīng)用簡化了厚度測量操作。
