主要用途：
激光粒度分析儀是根據(jù)光的散射原理測量粉顆粒大小的，是一種比較通用的粒度儀。其特點(diǎn)是測量的動態(tài)范圍寬、測量速度快、操作方便，尤其適合測量粒度分布范圍寬的粉體和液體霧滴。對粒度均勻的粉體，比如磨料微粉，要慎重選用。
產(chǎn)品功能：
激光粒度儀集成了激光技術(shù)、現(xiàn)代光電技術(shù)、電子技術(shù)、精密機(jī)械和計算機(jī)技術(shù)，具有測量速度快、動態(tài)范圍大、操作簡便、重復(fù)性好等優(yōu)點(diǎn)，現(xiàn)已成為*zui流行的粒度測試儀器。
主要應(yīng)用領(lǐng)域：
l.各種非金屬粉：如重鈣、輕鈣、*、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸鋯、氧化鋯、氧化鎂、氧化鋅等。
2.各種金屬粉：如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等。
3.其它粉體：如鋰電池材料、催化劑、熒光粉、水泥、磨料、醫(yī)藥、食品、涂料、染料、河流泥沙、陶瓷原料、化工材料、納米材料、造紙?zhí)盍贤苛?、各種乳濁液等。
激光粒度儀的原理
激光粒度儀是根據(jù)顆粒能使激光產(chǎn)生散射這一物理現(xiàn)象測試粒度分布的。由于激光具有很好的單色性和*的方向性，所以在沒有阻礙的無限空間中激光將會照射到無窮遠(yuǎn)的地方，并且在傳播過程中很少有發(fā)散的現(xiàn)象。
儀器系統(tǒng)的組成主要包括三部分
1)主機(jī)(光學(xué)元件)，標(biāo)志為MasterSizer 2000；主機(jī)用來收集測量樣品內(nèi)粒度大小的原始數(shù)據(jù)。
2)附件(進(jìn)樣器)，標(biāo)識為Hydro 2000G(普通濕法)；附件*的目的就是將樣品分散混勻充分并傳送到主機(jī)以便于測量。
3)計算機(jī)和Malvern測量軟件；Malvern 軟件可定義、控制整個測量過程，并同時處理測量的粒度分布數(shù)據(jù)、顯示結(jié)果并打印報表。
常用的粒度測量方法
?。?）篩分法
?。?）沉降法（重力沉降法、離心沉降法）
（3）電阻法（庫爾特顆粒計數(shù)器）
?。?）顯微鏡（圖像）法
?。?）電鏡法
（6）超聲波法
?。?）透氣法
?。?）激光衍射法
各種方法的優(yōu)缺點(diǎn)
篩分法：優(yōu)點(diǎn)：簡單、直觀、設(shè)備造價低、常用于大于40μm的樣品。缺點(diǎn)：不能用于40μm以細(xì)的樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
顯微鏡法：優(yōu)點(diǎn)：簡單、直觀、可進(jìn)行形貌分析。 缺點(diǎn)：速度慢、代表性差，無法測超細(xì)顆粒。
沉降法（包括重力沉降和離心沉降）：優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測試范圍較大。 缺點(diǎn)：測試時間較長。
電阻法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，可測顆?？倲?shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。 缺點(diǎn)：測試范圍較小，小孔容易被顆粒堵塞，介質(zhì)應(yīng)具備嚴(yán)格的導(dǎo)電特性。
電鏡法：優(yōu)點(diǎn)：適合測試超細(xì)顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。 缺點(diǎn)：樣品少、代表性差、儀器價格昂貴。
超聲波法：優(yōu)點(diǎn)：可對高濃度漿料直接測量。 缺點(diǎn)：分辨率較低。
透氣法：優(yōu)點(diǎn)：儀器價格低，不用對樣品進(jìn)行分散，可測磁性材料粉體。 缺點(diǎn)：只能得到平均粒度值，不能測粒度分布。
激光法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，測試速度快，測試范圍大，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可進(jìn)行在線測量和干法測量。 缺點(diǎn)：儀器造價較高但性能穩(wěn)定。
