【PCT老化試驗(yàn)機(jī)熊s針對JESD22-A102的試驗(yàn)說明：】
用來評價(jià)非氣密封裝器件在水汽凝結(jié)或飽和水汽環(huán)境下抵御水汽的完整性。樣品在高壓下處于凝結(jié)的、高濕度環(huán)境中，以使水汽進(jìn)入封裝體內(nèi)，暴露出封裝中的弱點(diǎn)，如分層和金屬化層的腐蝕。該試驗(yàn)用來評價(jià)新的封裝結(jié)構(gòu)或封裝體中材料、設(shè)計(jì)的更新。 應(yīng)該注意，在該試驗(yàn)中會出現(xiàn)一些與實(shí)際應(yīng)用情況不符的內(nèi)部或外部失效機(jī)制。由于吸收的水汽會降低大多數(shù)聚合物材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度，當(dāng)溫度高于玻璃化轉(zhuǎn)變溫度時(shí)，可能會出現(xiàn)非真實(shí)的失效模式。
外引腳錫短路：封裝體外引腳因濕氣引起之電離效應(yīng)，會造成離子遷移不正常生長，而導(dǎo)致引腳之間發(fā)生短路現(xiàn)象。 濕氣造成封裝體內(nèi)部腐蝕：濕氣經(jīng)過封裝過程所造成的裂傷，將外部的離子污染帶到芯片表面，在經(jīng)過經(jīng)過表面的缺陷如：護(hù)層針孔、裂傷、被覆不良處、、等，進(jìn)入半導(dǎo)體原件里面，造成腐蝕以及漏電流、、等問題，如果有施加偏壓的話故障更容易發(fā)生。
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1．高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)Du家采用全自動補(bǔ)充水位之功能,試驗(yàn)*中斷、
2．試驗(yàn)過程的溫度、濕度、壓力，是真正讀取相關(guān)傳感器的讀值來顯示的，而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計(jì)算出來的，能夠真正掌握實(shí)際的試驗(yàn)過程。
3．干燥設(shè)計(jì)，試驗(yàn)終止采用電熱干燥設(shè)計(jì)確保測試區(qū)(待測品)的干燥，確保穩(wěn)定性。
4．精準(zhǔn)的壓力/溫度對照顯示，*符合溫濕度壓力對照表要求。
艾思荔的主營產(chǎn)品有:高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)，HAST高度加速壽命試驗(yàn)機(jī)，可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫?zé)釢裨囼?yàn)箱、步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室、高低溫試驗(yàn)箱、快速溫變高低溫試驗(yàn)機(jī)、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、溫度沖擊箱、鹽霧試驗(yàn)機(jī)、鹽干濕復(fù)合鹽霧試驗(yàn)機(jī)、老化試驗(yàn)箱、高溫干燥箱、高溫烤箱、UV紫外線耐氣候試驗(yàn)機(jī)、真空烤箱等可靠性環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備以及制程設(shè)備，有數(shù)十個系列近百種產(chǎn)品。
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希望內(nèi)箱尺寸：H W D cm
放置場地尺寸：H W D cm
溫度范圍： ℃ -℃
常用溫度： ℃ Zui低溫度： ℃
濕度范圍： ％ ％RH
常用濕度： ％RH Zui低濕度： ％RH
降溫速度： ℃/min 升溫速度： ℃/min
所測試產(chǎn)品是否需要通電測試：
能電測試的發(fā)熱源多大：
其它類特定要求：
測試負(fù)載（物品性質(zhì)）：
負(fù)載發(fā)熱功率多大：
放置場地有無空調(diào)：
房間空調(diào)多大？
