立式直讀光譜儀【深圳市云帆興燁科技有限公司 :,:】斯派克公司持續(xù)30年的研發(fā)奠定了直讀光譜儀的世界*地位。新技術(shù)創(chuàng)造者的研發(fā)成果在不斷的積累和提升，創(chuàng)造的新一代光譜儀是金屬冶煉廠和高難度分析應(yīng)用的解決方案。如今，當分析速度，精度和靈活性需求日益提升，SPECTROLAB是*。
SPECTROLAB高性能電弧/火花光學(xué)發(fā)射直讀光譜儀（OES）
新一代立式直讀光譜儀SPECTROLAB完成了元素分析的偉大創(chuàng)新。穩(wěn)定性，靈活性和分析功能集于一身，其它光譜儀制造公司無一匹敵。PMT/CCD雙檢測器光學(xué)系統(tǒng)和全新突破的CCD光學(xué)系統(tǒng)為科研和過程/質(zhì)量控制設(shè)定了新的標準。
SPECTROLAB所有性能優(yōu)勢，：
兩種配置：雙檢測器光學(xué)系統(tǒng)或全CCD光學(xué)系統(tǒng)
SPECTROLAB提供高性能火花直讀光譜儀的兩種光學(xué)系統(tǒng)創(chuàng)新設(shè)計。雙檢測器模塊實現(xiàn)了“混合動力”優(yōu)勢-模擬電子技術(shù)的檢測器光電倍增管（PMT）和數(shù)字技術(shù)電荷耦合檢測器（CCD）-呈現(xiàn)超級準確度多元素測量。適合于科研檢測新材料，痕量元素，夾雜物，高純金屬以及貴金屬.全CCD模塊實現(xiàn)了快速，準確，超級靈活的分析性能。尤其適合快速分析和多基體，多元素分析的應(yīng)用。為爐前過程控制和成品質(zhì)量控制和成品質(zhì)量控制提供優(yōu)異的分析結(jié)果。
超級靈活的元素選擇
摒棄了以往耗時，昂貴的硬件通道擴展方式。大多數(shù)SPECTRLAB用戶日后增加元素通道將無需增加硬件設(shè)置?？蛇x的軟件擴展設(shè)置使得用戶甚至可以不用準備標樣制作工作曲線。
超高靈敏度
利益于動態(tài)背景校正等新技術(shù)，檢測限達到新水平。SPECTROLAB可以準確測定百分之一（PPM）水平的痕量元素含量。
超高速測量
SPECTROLAB的設(shè)計是以抓住每一個機會來滿足金屬分析對速度的需求。例如，高能等離子發(fā)生器光源配合*的動態(tài)預(yù)然控制，實現(xiàn)縮短優(yōu)質(zhì)試樣分析時間。因而，瞬間切換到激發(fā)測量階段。增加單位時間樣品測試數(shù)量。在許多應(yīng)用中都可以實現(xiàn)超級短的分析時間。
超級穩(wěn)定性
金屬生產(chǎn)企業(yè)無法容忍不可靠的分析數(shù)據(jù)。反復(fù)無常的分析結(jié)果不斷制造廢品?；貭t重?zé)捄臅r錢。SPECTRLAB確保了儀器穩(wěn)定性。超越傳統(tǒng)真空技術(shù)和氣體流動沖動，密封自循環(huán)光學(xué)系統(tǒng)zui大限度地保證了包括遠紫外光的傳輸穩(wěn)定性。軟件動態(tài)控制在線漂移校正。設(shè)計師選擇的分析譜線和參比譜線對，確保達成穩(wěn)定性測量。
大大降低運行成本
*的ICAL智能標準化技術(shù)減少了標樣消耗和儀器校準時間。UV-PLUS自循環(huán)凈化系統(tǒng)避免了昂貴的真空系統(tǒng)維護維修成本。儀器部件位置的重新排布，先近的硬件自診斷系統(tǒng)以及其它改進促使維護更方便。更重要的是，zui大程度地預(yù)防儀器突然故障停機造成的巨額生產(chǎn)連鎖損失。SPECTRLAB將直讀光譜儀的運行成本降低到新的水平。
的易用性
即使是沒有光譜儀使用經(jīng)驗的操作者，SPECTROLAB的操作界面也非常容易上手。取代以前的多對話窗口，簡約而精致的工具條按鈕讓操作者愛不釋手。相比以前復(fù)雜的方法開發(fā)軟件，善解人意的應(yīng)用引導(dǎo)，就像是為此量身訂制。
易于維護維修
新一代SPECTROLAB中，主要的電子部件-包括讀出系統(tǒng)，電路板和電源供給-都安置在頂部隔離的區(qū)域。光學(xué)系統(tǒng)的溫度控制變得容易而穩(wěn)定。同時維修工作更加方便。
建立光學(xué)系統(tǒng)技術(shù)新標準
2007年SPECTROLAB創(chuàng)造了先鋒技術(shù)“混合動力”PMT/CCD雙檢測器光學(xué)系統(tǒng)，為直讀光譜儀光學(xué)技術(shù)樹立了新的里程碑。自從斯派克公司從未間斷提升兩種技術(shù)至新的境界。
兩種創(chuàng)造性的光學(xué)系統(tǒng)技術(shù)
無論第三代“混合動力”雙檢測器光學(xué)系統(tǒng)還是全CCD光學(xué)系統(tǒng)都創(chuàng)造性地為金屬工業(yè)提供了杰出的光學(xué)分析性能。雙檢測器光學(xué)系統(tǒng)無懈可擊地滿足了個性化科研實驗室對靈活性，穩(wěn)定性和高精度的嚴格要求。使其尤其適于檢測新材料，痕量分析，夾雜物，高純金屬以及貴金屬。全CCD光學(xué)系統(tǒng)兼具驚人的重要性，穩(wěn)定性和快速分析。便捷的ICAL智能標準化大大縮短儀器校正時間。這些性能恰恰是爐前過程控制或進出廠原材料質(zhì)量檢驗zui需要的。不僅于此，SPECTROLAB的測定球墨鑄鐵中的碳元素含量技術(shù)逐步取代了紅外碳硫分析儀。美國證書編號：8，976，350，B2
